A través de la Unidad de Relaciones y Coordinación de los Servicios Generales de Investigación (SGI)
y del Secretariado de Centros, Institutos, Servicios de Investigación (SCISI) y Centro de Investigación Tecnológica e Investigación de la Universidad de Sevilla (CITIUS), nos ha llegado noticia de los cursos que a continuación relacionamos.
Se trata de cursos de SCISI, CITIUS, en colaboración con el Centro de Formación Permanente y con el Servicio de Formación del Personal de Administración y Servicios.
2012-04-10_MIC-JEOL: IV CURSO DE FORMACIÓN EN MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO.
Contenidos: 1. Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido. 2. Preparación de muestras. 3. Visualización y obtención de imágenes en: Alto vacío. Detectores de electrones secundarios y electrones retrodispersados. Bajo vacío. Detector de electrones retrodispersados. 4. Obtención de imágenes por microscopía electrónica de barrido de alta resolución. 5. Análisis elemental mediante rayos X. 6. Configuración de parámetros según el tipo de muestras.
Justificación y objetivos: El objetivo del curso es formar adecuadamente a los alumnos tanto a nivel teórico como práctico de manera que al finalizar el mismo sean capaces de manejar de forma autónoma un microscopio electrónico de barrido y elegir adecuadamente el modo de trabajo según el tipo de muestra.
Destinatarios: Cualquier persona cuya actividad o investigación esté o vaya a estar relacionada con la microscopía electrónica de barrido.
Duración, fechas, horario y lugar: 25 horas (5 teóricas y 20 prácticas); cuarta edición: del 10 de abril al 22 de mayo de 2012; de lunes a viernes, horario de mañana y tarde (8:30-14:30 h, 15:30-19:30 h), SGI Microscopía (CITIUS).
Precio de matrícula: 220 € (incluido los costes derivados por apertura de expediente y diploma, costes que se abonan en el Centro de Formación Permanente, -Pabellón de México- al cumplimentar la matrícula).
Plazo de preinscripción: Del 13 al 26 de febrero de 2012, vía CENTRO DE FORMACIÓN PERMANENTE de la US (http://www.cfp.us.es/). Pabellón de México.
Plazo de matrícula: Del 1 al 20 de marzo de 2012, vía CENTRO DE FORMACIÓN PERMANENTE de la US (http://www.cfp.us.es/).
Más información en: http://www.cfp.us.es/web/ficha_avanzada.asp?id_titulo=1282&tipo=FC&basica=1&curso=2011
2012-05-07_MIC-NANO: TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN SUPERFICIAL NANOMÉTRICAS AFM, STM Y FESEM.
Contenidos: 1. Normas y riesgos asociados al uso del microscopio electrónico de barrido y microscopios de barrido por sonda. 2. Fundamentos de la microscopia AFM-STM. 3. Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido: interacción electrónmateria, resolución. 4. Modos de operación con Microscopio AFM-STM Pico Scan 2500: -AFM Contacto -AFM Contacto intermitente -STM Corriente constante. 5. Medidas de dominios magnéticos, Magnetic Force Microscopy (MFM). 6. Operación con el FESEM Hitachi S5200. 7. Captura de imagen en FESEM Hitachi S5200. 8. Técnicas para observación de muestras según su naturaleza y conductividad. 9. Técnicas de preparación de muestras.
Justificación y objetivos: El objetivo del curso es formar adecuadamente a los alumnos tanto a nivel teórico como práctico de manera que al finalizar el mismo sean capaces de manejar de forma autónoma los microscopios.
Destinatarios: Cualquier persona cuya actividad o investigación esté o vaya a estar relacionada con la microscopía electrónica de barrido y la microscopía de barrido por sonda.
Duración, fechas, horario y lugar: 30 horas (6 teóricas y 24 prácticas); tercera edición: del 07-05-2012 al 30-06-2012; de lunes a viernes, horario de mañana (8-15h), SGI Microscopía (CITIUS).
Precio de matrícula: 175 € (no se incluyen los costes derivados por apertura de expediente y diploma, costes que se abonan en el Centro de Formación Permanente, -Pabellón de México- al cumplimentar la matrícula).
Plazo de preinscripción: Consultar en CENTRO DE FORMACIÓN PERMANENTE de la US (http://www.cfp.us.es/). Pabellón de México, y en microscopia@us.es.
Plazo de matrícula: Consultar en CENTRO DE FORMACIÓN PERMANENTE de la US (http://www.cfp.us.es/). Pabellón de México, y en microscopia@us.es.
2012-06-19_BLAST: CURSO DE INICIACIÓN A LA BIOINFORMÁTICA: ANÁLISIS DE SECUENCIAS CON “BLAST”.
Contenidos: Tipos de alineamientos. Alineamientos locales y globales. Algoritmo de Blast. Ajuste de parámetros y ejercicios.
Justificación y objetivos: El objetivo principal que persigue el Laboratorio de Bioinformática del CITIUS es la formación del personal investigador en herramientas básicas para el análisis de datos procedentes de moléculas informativas (ADN y proteínas). Este curso pretende cumplir ese objetivo proporcionando la formación básica en una herramienta fundamental para cualquier investigador cuyo trabajo esté relacionado con la Biología Molecular.
Destinatarios: Investigadores o licenciados o alumnos de 4º y 5º, técnicos de laboratorios de la US, de laboratorios de empresas privadas, etc, cuya actividad esté relacionada con el análisis de secuencias de ADN y proteínas.
Duración, fechas y horario: 20 horas; del 18 al 22 de junio de 2012; en horario de mañana.
Precio de matrícula: 120 € (a este coste hay que añadir el derivado por apertura de expediente y diploma, costes que se abonan en el Centro de Formación Permanente, -Pabellón de México- al cumplimentar la matrícula).
Plazo de preinscripción: Del 1 al 20 de marzo de 2012, vía página web del CENTRO DE FORMACIÓN PERMANENTE de la US (http://www.cfp.us.es/). Pabellón de México.
Plazo de matrícula: Del 1 al 20 de abril de 2012, vía página web del CENTRO DE FORMACIÓN PERMANENTE de la US (http://www.cfp.us.es/).
2012-03-06_VALID: ESTIMACIÓN DE INCERTIDUMBRES EN CALIBRACIONES Y VALIDACIÓN DE MÉTODOS DE ENSAYO EN LABORATORIOS. EJEMPLOS PRÁCTICOS.
Contenidos: Tema 1: Conceptos básicos sobre Metrología (1 hora). Medición. Mensurando. Magnitud de influencia. Resultado. Repetibilidad. Reproducibilidad. Error. Desviación. Corrección. Tema 2: Incertidumbre de medida (2 horas). Concepto. Fuentes de incertidumbre. Documentos para el cálculo. Guía EA-4/02. Expresión de la incertidumbre. Ejemplos prácticos. Tema 3: Interpretación de resultados de calibración. Interpretación de especificaciones de instrumentos de medida. Verificación de la conformidad. (1 hora). Introducción: calibración y verificación. Resultados de calibración. Especificaciones y requisitos petrológicos. Verificación de la conformidad. Tema 4: Conceptos generales de validación (1 hora). El concepto de validación. Objetivo y alcance: métodos normalizados y no normalizados. Los parámetros de validación de un método: Selectividad y Especificidad. Precisión. Exactitud. Linealidad. Límite de detección y cuantificación. Incertidumbre. Robustez. Tema 5: Estrategias de validación (2 horas). Blanco de reactivos. Blancos de soluciones estándar. Materiales y soluciones enriquecidas (spiked). Materiales de referencia y materiales de referencia certificados. Estudios intra- e interlaboratorios. Ensayos colaborativos y de aptitud. Tema 6: Conceptos básicos sobre métodos estadísticos (1 hora). Promedio, Mediana, Rango. Varianza y Desviación estándar. Diagramas de dispersión. Contrastes de hipótesis: t-Student. Análisis de la Varianza: ANOVA. Estimación de parámetros y determinación de los intervalos de confianza: Regresión lineal. Gráficos de control.
Justificación y objetivos: Conocer los conceptos básicos y definiciones sobre Metrología. Conocer los fundamentos para la estimación de incertidumbres de medida y su aplicación en laboratorios de ensayo y calibración. Saber interpretar los resultados de un certificado de calibración. Saber interpretar y utilizar las especificaciones de los instrumentos de medida de uso común en laboratorios. Adquirir las nociones básicas para establecer los requisitos metrológicos de los instrumentos del laboratorio y realizar la verificación de su conformidad. Conocer qué es la validación y su necesidad. Conocer los parámetros habituales a tener en cuenta en la validación de métodos de ensayo. Dar criterios para la selección y validación de métodos, así como desarrollar los parámetros característicos en un proceso de validación de métodos de ensayo.
Destinatarios: Técnicos de laboratorios de la US.
Atención: Se les comunica a los técnicos inscritos y seleccionados que una vez admitidos en el curso pueden enviar a los formadores (rdi@us.es y/o jrivera@us.es), las características técnicas de el/los equipo/s e instrumento/s de laboratorio con los que trabajen de forma habitual y sus necesidades particulares, referentes al cálculo de incertidumbres, calibraciones y/o validaciones, que se les presenten en su trabajo diario en el laboratorio.
Duración, fechas, horario y lugar: 8 horas; 6 y 7 de Marzo de 2012; de 16:00 a 20:00 horas; Seminario 2ª planta del CITIUS.
Matrícula: En la página web del Servicio de Formación del PAS (FORPAS),
https://www.r2h2.us.es/participante/index.php?page=curso_mostrar&codigo_curso=12417
2012-03-26_INFO: APLICACIÓN INFORMÁTICA EN EL TRATAMIENTO DE DATOS ANALÍTICOS.
Contenidos: Hojas de cálculo en Estadística Básica. Evaluación de datos analíticos: medidas, errores, exactitud y precisión. Análisis estadístico de los datos: Test de significación, comparación de medidas, datos anómalos. Calibración y estandarización: regresión lineal y su evaluación. Intervalo dinámico.
Justificación y objetivos: En la actualidad, uno de los colectivos que más se ha desarrollado dentro del P.A.S. de la Universidad ha sido correspondiente a los miembros del personal de laboratorios, donde se necesitan unos conocimientos básicos para el uso de hojas de cálculo para el tratamiento de datos analíticos y así poder ofrecer resultados correctos, tanto en las prácticas docentes como en los laboratorios de investigación.
Destinatarios: Técnicos de laboratorio de la US.
Duración, fechas, horario y lugar: 10 horas; 26 y 27 de marzo de 2012; de 16 a 21 horas; Aula Informática del Edificio Rojo de Biología.
Matrícula: En la página web del Servicio de Formación del PAS (FORPAS), http://www.forpas.us.es
2012-09-17_CROM-II: CURSO DE CROMATOGRAFÍA II (Continuación curso 2010)
Contenidos: Validación de métodos cromatográficos. Cromatografía gases-masas. Electroforesis capilar.
Justificación: Los técnicos que asistan a este curso deberán de adquirir suficientes conocimientos básicos sobre cromatografía para poder desarrollar en sus laboratorios ensayos analíticos en cromatografía gases-masas y electroforesis capilar, ya sea para aplicar tales conocimientos sobre la validación de métodos cromatográficos.
Destinatarios: Técnicos de laboratorios de la US.
Duración, fechas, horario y lugar: 9 horas (80% horas prácticas); 17, 18 y 19 de septiembre de 2012; de 16:00 a 19:00 horas; Departamento Química Analítica (Facultad de Química) y Seminario del CITIUS.
Matrícula: En la página web del Servicio de Formación del PAS (FORPAS), http://www.forpas.us.es
Fuente: Unidad de Relaciones y Coordinación de los Servicios Generales de Investigación (SGI)
y del Secretariado de Centros, Institutos, Servicios de Investigación (SCISI) y CITIUS
http://investigacion.us.es/scisi/sgi
