Etiquetas

, , , , ,


Damos difusión a este comunicado sobre un Curso de Microscopía.
EL SECRETARIADO DE CENTROS, INSTITUTOS, SERVICIOS DE INVESTIGACIÓN (SCISI) Y DEL CENTRO DE INVESTIGACIÓN,  TECNOLOGÍA E INNOVACIÓN DE LA UNIVERSIDAD DE SEVILLA (CITIUS), EN COLABORACIÓN CON EL CENTRO DE FORMACIÓN PERMANENTE (CFP)

COMUNICA

Que se va a impartir el curso que se relaciona a continuación:

2011-06-07_MIC-NANO:

“TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓN SUPERFICIAL NANOMÉTRICAS AFM, STM Y FESEM”.

Contenidos:
1.      Normas y riesgos asociados al uso del microscopio electrónico de barrido y microscopios de barrido por sonda.
2.      Fundamentos de la microscopía AFM-STM.
3.      Fundamentos de la microscopía electrónica de barrido: interacción electrón-materia, resolución.
4.      Modos de operación con Microscopio AFM-STM Pico Scan 2500:
a.  AFM Contacto.
b.  AFM Contacto intermitente.
c.  STM Corriente constante.
5.      Medidas de dominios magnéticos: Magnetic Force Microscopy (MFM).
6.      Operación con el FESEM Hitachi S5200.
7.      Captura de imagen en el FESEM Hitachi S2500.
8.      Técnicas para la observación de muestras según su naturaleza y conductividad.
9.      Técnicas de preparación de muestras.
Destinatarios: Cualquier persona cuya actividad o investigación esté o vaya a estar relacionada con la microscopía electrónica de barrido y la microscopía de barrido por sonda.
Duración, fechas y horario: 30 horas (6 teóricas y 24 prácticas); del 7 al 30 de junio de 2011; de lunes a viernes en horario de 8.00 a 15.00 horas.
Más información y plazos de preinscripción y matrícula: Consultar página web del CFP.
Coste de matrícula: 195.00 € (tasas incluidas).
Fuente: Alfonso M. Losa Rivera (Área de Formación, Unidad de Relaciones y Coordinación del SCISI-CITIUS)
CITIUS (Centro de Investigación, Tecnología e Innovación de la Universidad de Sevilla)
Av. Reina Mercedes 4, 41012-Sevilla, España
Tfno: (34+) 954559730   Fax: (34+) 954559753
http://investigacion.us.es/scisi/sgi
Secretariado de Centros, Institutos, Servicios de Investigación (SCISI) y CITIUS.

Anuncios